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一般晶振停振问题，推荐用zui简单zui直接的 “排除法”。 从外因及内因两个方向入手。
一、外因方面：
排除外界元件不良的情况，因为外界零件无非为电阻、电容，让你很容易鉴别是否为不良品。
排除晶振为不良品的可能性，这里你不会只试了1~2个晶振发现晶振不振就停止了测试。
排除线路错误的可能性，先尝试采用相应型号线路的推荐电路进行比较。
可以改变晶体两端的电容，电容的大小请参考晶振的使用说明，相匹配的外接电容很重要。
考虑是否为负载电容或电路设计或加工造成的杂散电容离散度大，造成晶体两端电压不足。
检测电路提供给晶振起振的激励功率是否符合需求。激励功率过大会造成晶片损坏，过小容易造成晶振不起振。
二、内因方面：
晶振不良的原因，比如晶片碎裂、阻抗过大、频率不良、晶体牵引力不足过大寄生反应。